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DFT 与可测性设计
围绕 scan、ATPG、MBIST、BIST、边界扫描、测试覆盖率和量产测试的面试准备。
课程模块：微电子与集成电路 · 芯片设计与制造。重点：故障模型、扫描链、ATPG、MBIST、BSCAN、覆盖率与测试功耗。
代码关联
适用招生代码
关联用于准备路径参考，不代表具体院校的官方考试范围。
面试资料
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围绕 scan、ATPG、MBIST、BIST、边界扫描、测试覆盖率和量产测试的面试准备。
课程模块：微电子与集成电路 · 芯片设计与制造。重点：故障模型、扫描链、ATPG、MBIST、BSCAN、覆盖率与测试功耗。
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